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知識分享‖紐扣電池半原位交流阻抗測試

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      在紐扣電池的正負極材料研究中,半原位阻抗測試是評估其材料穩(wěn)定性等特性的重要手段。東華分析電化學工作站及其配套軟件可通過組合多個實驗方法,為研究人員提供高效的測試解決方案。
一、測試方法概述
紐扣電池半原位阻抗測試常用兩種測試方式:
1.電池充電或放電至不同的電位后,在該電位下測試電池的交流阻抗;
2.電池充電或放電至設(shè)定時間后,在電池當時開路電位下測試電池的交流阻抗。
二、測試方式一
      使用軟件組合多個恒電流-電位EIS,實現(xiàn)充電至不同的電位測試交流阻抗,再連續(xù)放電至不同的電位測試交流阻抗整個過程的閉環(huán)測試,序列實驗方法組合設(shè)置如圖1所示:

圖1 不同電位限制的半原位交流阻抗測試方法組合

      以其中某步恒電流充電實驗方法為例,該步驟充電至限制電位時,未知所需要的時間,故在軟件上可設(shè)置控制優(yōu)先級為“電壓”,這樣該充電步驟就由實時采集的電壓判斷該步驟是否結(jié)束,結(jié)束后自動切換至下一個實驗方法進行交流阻抗測試。

圖2 恒電流充電步驟參數(shù)設(shè)置示意圖

      以下一步控制電位EIS方法為例,上一步恒電流給電池充電至3.9V后,電池的實際電壓=3.9-0.0000904*Rcell,故實際電池電壓低于3.9V。因此DC電位需設(shè)置3.9V vs Ref,在“測量延遲”參數(shù)中設(shè)置一段時間,以使電池的實際電壓更為接近3.9V。
      注:該時間參數(shù)可由恒電位設(shè)置3.9V vs Ref方法看采集的電流|I|平穩(wěn)后的時間作為參考設(shè)置。也可在恒電流和控制電位EIS方法之間插入恒電位方法,通過電流值判斷電壓充電是否結(jié)束。

圖3 掃頻電壓交流阻抗步驟參數(shù)設(shè)置示意圖

      經(jīng)過數(shù)次恒電流和交流阻抗實驗,直至充電至上限電位,最后一次阻抗測試完成后,繼續(xù)進行放電過程的半原位阻抗測試。

圖4 恒電流放電步驟參數(shù)設(shè)置示意圖


三、測試方式二
      利用恒電流間歇滴定法(GITT)的邏輯規(guī)則,在軟件上組合恒電流-電位EIS實現(xiàn)從充電至上限電位后再連續(xù)放電至下限電位整個過程的閉環(huán)測試,序列實驗方法組合設(shè)置如圖5所示:

圖5 GITT組合恒電流-電位EIS實現(xiàn)半原位交流阻抗測試

      這套實驗方法組合利用GITT的邏輯規(guī)則,采用的是恒電流充電一定時間后,測試當時電池在開路電位下的交流阻抗。

圖6 恒電流充電步驟參數(shù)設(shè)置示意圖圖7  GITT循環(huán)內(nèi)控制電壓EIS參數(shù)設(shè)置示意圖

      然后繼續(xù)該步驟GITT設(shè)置的循環(huán)次數(shù)(此循環(huán)次數(shù)可以根據(jù)實際充電時間設(shè)置,也可以設(shè)置比較大的循環(huán)次數(shù)以確保該GITT步驟能充電至上限電位),當整個充電實驗到設(shè)置的上限電位,則該GITT方法結(jié)束,軟件會自動切換至與GITT并列的“控制電位EIS”實驗方法,在上限電位下測試交流阻抗。

圖8  與GITT循環(huán)并列控制電壓EIS參數(shù)設(shè)置示意圖

      然后參考充電步驟設(shè)置,繼續(xù)進行放電步驟的半原位阻抗測試。

圖9 恒電流放電步驟參數(shù)設(shè)置示意圖


四、案例分享
案例一: 不同電位限制下的半原位交流阻抗測試數(shù)據(jù)
案例二:固定的充/放電時間和上/下限電位限制下的半原位交流阻抗測試數(shù)據(jù)

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